四面可調光源 ZSP-L
條型光源 ZSP-L系列高均勻條型光源特別適合於大尺寸特微的成像場合，可充當背光源使用，多個條型光源可自由組合，照射角度也可根據檢測需求隨意調整。產品特點：1、高均勻條型照明光源有效解決對角度照射陰影問題2、照射角度可根據檢測需求隨意調整3、可充當背光源使用4、可適應大多環境的均勻照明應用範圍：1、電子元件識別檢測2、印刷品質檢測3、食品包裝檢測等
四面可調光源 ZSP-LM系列
四面可調光源由四個獨立可控的照明單元組成，每個照明單元可0-90度自由調整，亮度可單獨控制。
產品特點： 1、四組組合條型光，每邊照明獨立可控 2、可根據被測物體要求調整所需照明角度 3、適用性廣 | 應用範圍： 1、焊錫檢測 2、陶製封裝和外部的裂縫檢測 3、金屬板表面檢測 4、包裝破損、標籤檢測 |
在機器視覺系統中，光源的作用主要體現在：
1.突出測量特徵，簡化影象處理演算法。
2.克服環境光的干擾，提高影象信噪比。
3.提高視覺系統的定位、測量、識別精度，以及系統的執行速度。
4.降低系統設計的複雜度。
型號說明：例：ZSP-LM10825-X
| ZSP | - | LM | 108 | 25 | - | X |
| 振勝 | 四邊條光 | 條光長度 | 條光寬度 | 顏色 |
| 條型光源結構圖 | 四邊條型光源照射示意圖 |
|---|---|
|
|
| 項 次 | 型 號 | 尺寸規格 | 電壓/功率 | 燈珠 排數 | 寬 度 | |||
| (點選型號開啟尺寸圖) | 總長A | 發光 面長度B | 發光 面寬度 | |||||
| 1 | ZSP-L6025-X | 60 | 48 | 15 | 24V/0.2W | 24V/0.4W | 3 | 25 |
| 2 | ZSP-L10825-X | 108 | 96 | 15 | 24V/1.5W | 24V/2.8W | ||
| 3 | ZSP-L15625-X | 156 | 144 | 15 | 24V/1.8W | 24V/3W | ||
| 4 | ZSP-L20425-X | 204 | 192 | 15 | 24V/2.8W | 24V/5W | ||
| 5 | ZSP-L25225-X | 252 | 240 | 15 | 24V/4.4W | 24V/8W | ||
| 6 | ZSP-L30025-X | 300 | 288 | 15 | 24V/5W | 24V/9W | ||
| 7 | ZSP-L39625-X | 396 | 384 | 15 | 24V/7W | 24V/12W | ||
| 8 | ZSP-L49225-X | 492 | 480 | 15 | 24V/8W | 24V/16W | ||
| 9 | ZSP-L58825-X | 588 | 576 | 15 | 24V/10W | 24V/18W | ||
| 10 | ZSP-L6040-X | 60 | 48 | 30 | 24V/0.3W | 24V/0.5W | 6 | 40 |
| 11 | ZSP-L10840-X | 108 | 96 | 30 | 24V/1.8W | 24V/3.2W | ||
| 12 | ZSP-L15640-X | 156 | 144 | 30 | 24V/2.2W | 24V/4W | ||
| 13 | ZSP-L20440-X | 204 | 192 | 30 | 24V/5W | 24V/8W | ||
| 14 | ZSP-L25240-X | 252 | 240 | 30 | 24V/6W | 24V/12W | ||
| 15 | ZSP-L30040-X | 300 | 288 | 30 | 24V/6.5W | 24V/12W | ||
| 16 | ZSP-L39640-X | 396 | 384 | 30 | 24V/8.5W | 24V/16W | ||
| 17 | ZSP-L49240-X | 492 | 480 | 30 | 24V/10W | 24V/18W | ||
| 18 | ZSP-L58840-X | 588 | 576 | 30 | 24V/12W | 24V/22W | ||
在機器視覺系統中，光源的作用主要體現在：
1.突出測量特徵，簡化影象處理演算法。
2.克服環境光的干擾，提高影象信噪比。
3.提高視覺系統的定位、測量、識別精度，以及系統的執行速度。
4.降低系統設計的複雜度。
| 可依以下需求訂製需求 | |
|---|---|
| 1.光源長、寬、高尺寸 | 2.光源多色訂製 |
| 3.安裝方式訂製 | 4.光源分區控制 |
| 5.多邊型光源 | |
在機器視覺系統中，光源的作用主要體現在：
1.突出測量特徵，簡化影象處理演算法。
2.克服環境光的干擾，提高影象信噪比。
3.提高視覺系統的定位、測量、識別精度，以及系統的執行速度。
4.降低系統設計的複雜度。